FM-Nanoview TAPPING zeer rendabele Atomic Force microscoop
FM-Nanoview 1000 flyingman AFM Atomic Force microscoop
Productbeschrijving
I. functies
1. De scankop en de monsterfase zijn samen ontworpen, met een sterke anti-vibratiewerking
2. Nauwkeurige laserdetectie en meetapparatuur maken het instellen van de laser eenvoudig en eenvoudig;
3. Pas de servomotor aan om het monster handmatig of automatisch naar de tip te laten lopen, om een nauwkeurige positionering van het scangebied te realiseren.
4. Een uiterst nauwkeurige en grote monstertransfer -inrichting maakt het mogelijk om elk interessant gebied van het monster te scannen;
5. Optisch observatiesysteem voor controle van de punt en positionering van het monster .
6. Het elektronische systeem is modulair en gemakkelijk te onderhouden en verder te ontwikkelen.
7. Neem de veer aan voor trillingsisolatie , eenvoudige en goede prestaties.
II. Software
1. Twee soorten bemonsteringspixels : 256×256, 512×512;
2. De functie voor het verplaatsen en snijden van het scangebied uitvoeren, elk interessant gebied van het monster kiezen;
3. Scan het monster in willekeurige hoek aan het begin;
4. Het laserdetectiesysteem in real -time aanpassen;
5. Kies en stel een andere kleur in voor het scannen van een afbeelding in palet.
6. Ondersteuning van lineaire gemiddelde en offset -kalibratie in real -time voor de titel van de steekproef ;
7. Ondersteuning van de kalibratie van de scannergevoeligheid en automatische kalibratie van de elektronische controller;
8. Offline analyse en proces van voorbeeldafbeelding ondersteunen.
Productparameters
III. Belangrijkste technische parameters
| Item |
Technische gegevens |
Item |
Technische gegevens |
| Bedrijfsmodi |
Contactmodus , frictiemodus , uitgebreide tapmodi , fase, MFM, EFM. |
Scanhoek |
Willekeurig |
| Steekproefomvang |
φ≤90 mm, H≤20 mm |
Monsterbeweging |
0 tot 20 mm |
| Max. Scanbereik |
X/Y: 20 um, Z: 2 um |
Pulsbreedte van naderende motor |
10±2 ms |
| Resolutie |
X/Y: 0.2 nm, Z: 0,05nm |
Optisch systeem |
Vergroting: 4X, resolutie: 2.5 um |
| Scansnelheid |
0,6 Hz tot 4,34 Hz |
Gegevenspunten |
256 × 256,512 × 512 |
| Scanbeheer |
XY: 18-BITS D/A, Z: 16-BITS D/A. |
Type feedback |
Digitale DSP-feedback |
| Gegevensbemonstering |
Eén 14-bits A/D en twee 16-bits A/D -kanalen tegelijk |
| Pc -aansluiting |
USB2.0 |
Feedback -samplesnelheid |
44,0 kHz |
| Ramen |
Compatibel met Windows 98/2000/XP/7/8 |
FSM gebouwd in 2013. De afgelopen 9 jaar concentreren we ons op het maken van instrumenten voor laboratoria en fabrieken.
We bieden atomaire krachtmicroscoop voor normale lichamelijke opvoeding en wifer-inspectie.
Het is de beste kostenverhouding AFM.
Gedetailleerde foto's
Waarom voor ons kiezen?
1.over vele jaren ervaring in productie en service.
2.wij zijn fabrikant die u een voorkeursprijs kan geven
3.ISO9001 -gecertificeerd.
garantie op de service-service gedurende de gehele levensduur.
5.OEM -service is beschikbaar.
6. Strenge kwaliteitscontroles vóór verzending.
Gecontroleerde Leverancier 
