Ra, Rz, Rq, Rt Oppervlakte Ruwheid Meetinstrument

• Maatwerk: Beschikbaar
• productnaam: meting van ruwheid van ra-, rz-, rq-, rt-oppervlak
• parameters voor oppervlakteruwheid: ra, rz, rq,rmax, rpc, rk, rpk, rvk, mr1, mr2, etc.
• Model NR.: SR-300T
• afbeelding: curve van het lageroppervlak, ruwheid/primair profiel
• meetmethode: scheef
• styluspunt: diamant, 90 kegelhoek, 5 umr
• vermogen: oplaadbare li-batterij
• Transportpakket: kartonnen doos
• Specificatie: 52*55*158 mm van de machine
• Handelsmerk: ebp
• Oorsprong: Zhejiang, China
• Gs-Code: 9031809090
• Productiecapaciteit: 300 sets per maand

Beschrijving

Productbeschrijving

Meetinstrument voor ruwheid oppervlak RA, RZ, RQ, RT

Geavanceerde draagbare oppervlakteruwheid-tester SR-300T is een instrument met hoge nauwkeurigheid voor het meten van oppervlakteruwheid. Het kan worden gebruikt op verschillende bewerkingsonderdelen en werkt op verschillende oppervlakken, niet alleen vlak, maar ook buiten kegel, buitenste cilinder, gebogen, pingaten, groeven, uitsparingen groeven, as, enz.

Toepassing:
Draagbare tester voor ruwheid van oppervlakken SR-300T maakt meting van ruwheid van oppervlakken mogelijk, zowel op metalen als niet-metalen werkstukken. Het is geschikt voor bewerking en productie, kwaliteitscontrole, inspectie afdelingen, vooral voor metingen op groot en zwaar werkstuk, montage lijn op locatie. De SR-300T is een niet-destructief testinstrument, er wordt geen schade aan het teststuk veroorzaakt.

De stylus drive unit kan in het apparaat worden opgeslagen voor standaardmetingen, of van de display unit worden gescheiden met behulp van de meegeleverde kabel, waardoor in elke richting flexibeler kan worden gemeten. De driver kan in één eenvoudige stap worden gescheiden en opnieuw worden geplaatst
 

Productparameters

Technische specificatie:

Meetbereik	De Z-as (verticaal)	±80 μm/±160 µm (verbeterd model)
	De X-as (transversaal)	17,5 mm
Resolutie	De Z-as (verticaal)	0,01 μm/±20 μm
		0,02 μm/±40 μm
		0,04 μm/±80 μm
		0,08 μm/±160 μm
Meetitem	Parameter	RA, RZ, RQ, RT, RP,  RV, R3z, R3y, RZ(JIS), RS,  RSK, RSM, Rku, RMR, Ry (JIS),  RMAX, RPC, RK, RPK, Rvk, MR1, MR2
	Standaard	ISO, ANSI, DIN, JIS
	Afbeelding	Curve van het lageroppervlak, ruwheidsprofiel, Primair profiel
Filteren		RC, PC-RC, GAUSS, D-P
De bemonsteringslengte (lr)		0.25, 0.8, 2,5 mm
Beoordelingslengte(ln)		LN= lr×n   n=1~5
Sensor	Meetmethode	scheept
	Styluspunt	Diamant, 90 kegelhoek, 5 μmR
	Kracht	<4 mN
	Glijstuk	harde legering, kromtestraal van skid: 40 mm
	Traversing-snelheid	lr=0.25,  VT=0,135 mm/s.
		lr=0.8,   VT=0. 5 mm/s
		lr=2. 5,   VT=1 mm/s.
		Retour     VT=1 mm/s
Nauwkeurigheid		Minder dan ±10%
Herhaalbaarheid		Minder dan 6%
Voeding		Ingebouwde lithium-ionbatterij, oplader: 5 V DC, 3200 mA
Omtrek dimensie		Hoofdeenheid: 52*55*158 mm  aandrijving: 23*27*115 mm
Gewicht (apparaat)		Ongeveer 400 g.
Werkomgeving		Temperatuur: - 20ºC ~ 40ºC Vochtigheid: < 90% RV
Opslag en transport		Temperatuur: - 40ºC ~  60ºC Vochtigheid: < 90% RV

Meetbereik:

Parameter	Bereik
RA,RQ	0,005 μm ~ 30 μm
RZ,R3z,Ry,RT,RP,RM	0,02 μm ~ 320 μm
SK	0 ~ 100%
S,SM	1 mm
tp	0 ~ 100%

Standaard paklijst:

SR-300T-apparaat	1 stuk
Sensoraandrijving	1 stuk
Standaardsensor	1 stuk
Kalibratieblok en steun	1 stuk
Hoogteadapter	1 stuk
Voedingsadapter	1 stuk
Handleiding	1 stuk

Profiel en certificaten van comany

VEELGESTELDE VRAGEN