BestScope BS-4020A trinoculaire industriële wafer Inspectie microscoop

• Warranty: 3 Years
• Vergroting: 50x-1000x
• Type: Industrial Inspection Microscope
• Aantal Cilinder: ≥ Drie
• Mobiliteit: Desktop
• Vorm: Cilindrische Gevormde Lens
• Model NR.: BS-4020A
• Gebruik: Onderwijs, Onderzoek, Industrial Inspection
• Principe: Optiek
• Principe van Optics: Industrial Inspection Microscope
• optisch systeem: nis45 oneindig kleurgecorrigeerd optisch systeem
• oculair: superbreed oculair met veldplan, verwisseld met 10x/25 mm
• doelstelling: 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
• neusstuk: achterwaarts sextupelneusstuk
• gereflecteerde verlichting: 24v/100w halogeenlamp
• eco-functie: eco-functie met eco-knop
• scherpstellen: coaxiale grof- en fijnregeling in lage stand
• fase: 3 lagen mechanisch podium met koppelingshendel
• Transportpakket: Strong Carton with Polyfoam Protection
• Handelsmerk: BestScope
• Oorsprong: China
• Productiecapaciteit: 1000 Sets Per Month

Beschrijving

Inleiding

BS-4020 industriële inspectie microscoop is speciaal ontworpen voor inspecties van wafers van verschillende afmetingen en grote PCB's. Deze microscoop kan een betrouwbare, comfortabele en nauwkeurige observatie-ervaring bieden. Met perfect uitgevoerde structuur, high-definition optisch systeem en ergonomisch besturingssysteem realiseert BS-4020 professionele analyse en voldoet aan diverse behoeften op het gebied van onderzoek en inspectie van wafers, FPD, circuit package, PCB, materiaalkunde, precisiegieten, metaalloceramiek, precisieschimmel, halfgeleider en elektronica etc.

Functies

1. Perfect microscopisch verlichtingssysteem.

De microscoop wordt geleverd met Kohler-verlichting, zorgt voor heldere en gelijkmatige verlichting in het hele gezichtsveld. In combinatie met het infinity optische systeem NIS45, de hoge na- en LWD-doelstelling kan perfecte microscopische imaging worden geboden.
 

Hoge kwaliteit Semi-APO en APO Bright field &Dark field doelstellingen.

Door de toepassing van meerlaagse coating technologie kunnen semi-APO en APO objectief lenzen uit de NIS45-serie sferische aberratie en de chromatische aberratie van ultraviolet tot bijna infrarood compenseren. De scherpte, resolutie en kleurweergave van de beelden kunnen worden gegarandeerd. De afbeelding met hoge resolutie en vlakke afbeelding voor verschillende vergrotingen kan worden gebruikt.
 

3. Het bedieningspaneel bevindt zich vóór de microscoop, en is gemakkelijk te bedienen.
Het bedieningspaneel van het mechanisme bevindt zich aan de voorzijde van de microscoop (bij de operator), waardoor de bewerking sneller en gemakkelijker wordt wanneer het monster wordt waargenomen. En het kan de vermoeidheid verminderen die wordt veroorzaakt door lange observatie en het zwevende stof dat door een grote verscheidenheid aan bewegingen wordt veroorzaakt.
4. Ergo kantelende trinoculaire kijkkop.

Het kantelbare Ergo-scheerhoofd kan de observatie comfortabeler maken, zodat de spierspanning en het ongemak als gevolg van lange werktijden tot een minimum worden beperkt.
 

5. Scherpstelmechanisme en fijnafstellingshendel van het podium met lage handpositie.

Het scherpstelmechanisme en de fijnafstellingshendel van het podium passen het ontwerp van de lage handpositie aan, dat overeenkomt met het ergonomische ontwerp. Gebruikers hoeven hun handen niet op te steken tijdens het bedienen, wat een optimaal comfort geeft.
 

6. De trap heeft een ingebouwde koppelingshendel.
De koppelingshendel kan de snelle en langzame bewegingsmodus van het podium realiseren en snel monsters met een groot oppervlak lokaliseren. Het zal niet langer moeilijk zijn om de monsters snel en nauwkeurig te lokaliseren als ze worden gebruikt in combinatie met de fijne afstelhendel van het stadium.
7. Oversized stage (14"x 12") kan gebruikt worden voor grote wafers en PCB's.
De gebieden van micro-elektronica en halfgeleidermonsters, vooral wafer, zijn doorgaans groot, dus gewone metallopgrafische microscoop kan niet aan hun observatiebehoeften voldoen. BS-4020 heeft een oversized podium met een groot bewegingsbereik, en is gemakkelijk te verplaatsen. Het is dus een ideaal instrument voor microscopische observatie van industriële monsters met een groot oppervlak.
8. 12" waferhouder wordt geleverd met de microscoop.

12-inch wafer en kleinere wafer kunnen worden waargenomen met deze microscoop, met snelle en fijne beweging stadiumgreep, kan het de werkefficiëntie aanzienlijk verbeteren.
 

9. Antistatische beschermlaag kan stof verminderen.

Industriële monsters moeten ver uit de buurt van zwevend stof zijn en een beetje stof kan de productkwaliteit en testresultaten beïnvloeden.
BS-4020 heeft een groot gebied met antistatische beschermlaag, die kan voorkomen dat er stof in zweeft en stof valt, om de monsters te beschermen en het testresultaat nauwkeuriger te maken.
 

10. Langere werkafstand en hoge na-doelstelling.
 

De elektronische componenten en halfgeleiders op monsters van printplaten hebben een verschil in hoogte. Daarom zijn er op dit gebied doelstellingen voor lange werkafstanden aangenomen. Om te voldoen aan de hoge eisen van industriële monsters op het gebied van kleurreproductie is de meerlaagse coatingtechnologie in de loop der jaren ontwikkeld en verbeterd en zijn BF&DF semi-APO en APO doelstelling met hoge na overgenomen, die de echte kleur van monsters kunnen herstellen.
 

11. Verschillende waarnemingsmethoden kunnen aan diverse testeisen voldoen.

Verlichting	Helder veld	Donker veld	DIC	TL-licht	Gepolariseerd licht
Gereflecteerde verlichting	○	○	○	○	○
Verzonden verlichting	○	-	-	-	○

Toepassing

BS-4020 industriële inspectie microscoop is een ideaal instrument voor inspecties van wafers van verschillende afmetingen en grote PCB's. Deze microscoop kan worden gebruikt in universiteiten, elektronicafabrieken en chips fabrieken voor onderzoek en inspectie van wafers, FPD, circuit package, PCB, materiaalwetenschap, precisiegieten, metaalloceramiek, precisieschimmel, halfgeleider en elektronica etc.

Specificatie

Item	Specificatie		BS-4020A	BS-4020B
Optisch systeem	NIS45 Infinite Optisch systeem met kleurcorrectie (buislengte: 200 mm)		·	·
Kijkkop	Ergo Tilting trinoculaire kop, instelbaar onder een hoek van 0 tot 35°, interpupillaire afstand van 47mm tot 78 mm; splitsingsverhouding oculair:trinoculair=100:0 of 20:80 of 0:100		·	·
	Seidentopf trinoculair hoofd, hoek van 30°, interpupillaire afstand: 47mm-78mm; splitsingsverhouding oculair:trinoculair=100:0 of 20:80 of 0:100		○	○
	Seidentopf binoculaire kop, hoek van 30°, interpupillaire afstand: 47 mm-78mm		○	○
Oculair	Superbreed oculair met veldompervlak SW10X/25mm, dioptrie instelbaar		·	·
	Superbreed oculair met veldompervlak SW10X/22mm, dioptrie instelbaar		○	○
	Extra breed oculair met veldompervlak EW12,5 x/17,5 mm, dioptrie instelbaar		○	○
	Breed oculair WF15X/16mm, dioptrie instelbaar		○	○
	Breed oculair WF20X/12 mm, dioptrie instelbaar		○	○
Doelstelling	NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF), M26	5X/NA=0.15, WD=20MM	·	·
		10X/NA=0.3, WD=11 MM	·	·
		20X/NA=0.45, WD=3,0 MM	·	·
	NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF), M26	50X/NA=0.8, WD=1,0 MM	·	·
		100X/NA=0.9, WD=1,0 MM	·	·
	NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF), M25	5X/NA=0.15, WD=20MM	○	○
		10X/NA=0.3, WD=11 MM	○	○
		20X/NA=0.45, WD=3,0 MM	○	○
	NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF), M25	50X/NA=0.8, WD=1,0 MM	○	○
		100X/NA=0.9, WD=1,0 MM	○	○
Neusstuk	Nekstuk van het nekstuk van de achterwaartse sextupelbeweging (met DIC-sleuf)		·	·
Condensor	LWD-CONDENSOR N.A.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.		○	·
Verzonden verlichting	LED-voeding van 40 W met lichtgeleider van optische vezels, instelbare intensiteit		○	·
Gereflecteerde verlichting	Reflected light 24V/100W halogeenlamp, Koehler verlichting, met draaischijf met 6 posities		·	·
	Halogeenlamp van 100 W.		·	·
	Gereflecteerd licht met 5W LED-lamp, Koehler-verlichting, met torentjes met 6 posities		○	○
	BF1 heldere veldmodule		·	·
	BF2 heldere veldmodule		·	·
	DF-module voor donker veld		·	·
	Ingebouwd ND6-, ND25-filter en kleurcorrectiefilter		○	○
ECO-functie	ECO-functie met ECO-knop		·	·
Scherpstellen	Lage positie coaxiale grof- en fijnscherpstelling, fijne verdeling 1μm, bewegend bereik 35 mm		·	·
Fase	3-laags mechanisch podium met koppelingshendel, maat 14"x12" (356 mmx305 mm); bewegend bereik 356 mmX305 mm; lichtgebied voor doorvallend licht: 356 x 284 mm.		·	·
	Waferhouder: Kan worden gebruikt om 12" wafer te houden		·	·
DIC-kit	DIC-kit voor gereflecteerde verlichting (kan worden gebruikt voor 10x, 20x, 50x, 100X-doelstellingen)		○	○
Polarisatieset	Polarisator voor gereflecteerde verlichting		○	○
	Analyser voor gereflecteerde verlichting, 0-360° draaibaar		○	○
	Polarisator voor doorgestuurde verlichting		○	○
	Analyser voor doorgezonden verlichting		○	○
Overige accessoires	0,5X adapter voor C-bevestiging		○	○
	1X adapter voor C-bevestiging		○	○
	Stofkap		·	·
	Netsnoer		·	·
	Kalibratieschuif 0,01 mm		○	○
	Monster-drukpers		○	○

Opmerking:·Standaard outfit, ○ Optioneel