• BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop
  • BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop
  • BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop
  • BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop
  • BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop
  • BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop

BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop

Warranty: 3 YEARS
Magnification: 50x-500x
Type: Industrial Inspection Microscope
Number of Cylinder: ≥Three
Mobility: Desktop
Stereoscopic Effect: Without Stereoscopic Effect

Neem contact op met de leverancier

Diamant Lid Sinds 2023

Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties

Fabrikant/fabriek

Basis Informatie.

Model NR.
BS-4060RF
Kind of Light Source
Ordinary Light
Shape
Cylindrical Shaped Lens
Usage
Teaching, Research
Principle
Optics
Principle of Optics
Infinity Color Corrected Optical System
oculair
pl10x/22 mm
neusstuk
Electric sextuple BD nosepiece
fase
12*14 inches three-layer mechanical stage
doelstelling
5x, 10x, 20x, 50x
gereflecteerde verlichting
Halogen light box, 12V/100W
scherpstellen
coaxiale grof- en fijnregeling in lage stand
Transportpakket
Strong Carton with Polyfoam Protection
Handelsmerk
BestScope
Oorsprong
Beijing
Productiecapaciteit
50000 PCS Per Year

Beschrijving

BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope

Inleiding

De BS-4060 is uitgerust met 12-inch waferhouders en wordt professioneel toegepast voor wafer- en flat-panel-schermdetectie, met maximale ondersteuning voor dia. 300 mm wafer en 17 inch FPD. Comfortabeler, flexibeler en sneller werken is mogelijk met een verbeterd ergonomisch ontwerp.

Functies
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
1. Kantelbaar kijkhoofd
kantelbaar kijkhoofd van 0 tot 35° voor het aanpassen van de hoogte van het oogpunt, biedt de beste kijkhoek voor verschillende gebruikers, waardoor de vermoeidheid van langdurig gebruik wordt weggenomen en de werkefficiëntie aanzienlijk wordt verbeterd.

 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
2. Ingebouwd handig en praktisch gereedschap
Alle metalen frames zijn stabiel maar zwaar. Met het oog op draaggemak is de BS-4060 ontworpen met twee stalen stangen aan de zijkanten van het frame. Door ze eruit te schroeven en ze in omgekeerde richting in te draaien, wordt een hefboom voor het laslager gevormd.

Speciale waarschuwing, vergrendel de trap tijdens het dragen.
 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
3. Gemakkelijk en stabiel podium
Het door de koppeling aangedreven systeem van de trap, knop omhoog voor snelle beweging en druk omlaag om te annuleren, is beschikbaar om vermoeidheid door langdurige werking te verminderen.

Fase met lineaire geleiderail, is realiseerbaar om licht en soepel te worden verplaatst.
 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
4. Bedieningsknoppen aan de voorzijde
BS-4060 maakt gebruik van elektrische bediening voor neusstuk en diafragma, met bedieningsknoppen aan de voorkant. Het is eenvoudig en handig te bedienen, waardoor de efficiëntie van het werk wordt verbeterd.

 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
5. Schokbestendig frame
Met zes stelvoeten is het metalen frame van de BS-4060 laag gecentreerd, hoog stabiel en anti-kloppend om beeldstabilisatie te garanderen.

 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
6. Veilige en snelle elektrische neusstuk
Met twee knoppen voor vooruit en achteruit schakelen kunt u snel de vergroting omzetten en nauwkeurig de positie herhalen. Mechanische schakelmodus verlengt de levensduur van het neusstuk effectief.

 

7. Gereflecteerde verlichting
Diafragma-diafragma past automatisch verschillende doelstellingen aan. Het is handiger en efficiënter, wat het beste beeldeffect biedt. Diafragma van het diafragma wordt automatisch ingeschakeld onder donker veld, om de werking te vereenvoudigen.
 
 
Toepassing

BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
Specificatie
 
Item Specificatie BS-4060 RF BS-4060TRF
Optisch systeem Infinity Colour Corrected Optical System * *
Kijkkop 0-35° instelbaar, rechtopstaand beeld, kantelbaar trinoculair hoofd, interpupillaire afstand: 50 mm, splitsingsverhouding: 100:0 of 0:100 * *
Oculair Hoog oogpunt, breed planteoculair PL10X/25 mm, met instelbare dioptrie * *
Hoog oogpunt, breed gezichtsveld, oculair PL10X/25 mm, met dradenkruis en instelbare dioptrie
Doelstellingen BD semi-apochromatische metallurgische doelstellingen 5X/NA=0.15, WD=13,5 MM * *
10X/NA=0.3, WD=9 MM * *
20X/NA=0.5, WD=2,5 MM
50X/NA=0.8, WD=1 MM
100X/NA=0.9, WD=1 MM
Ultra-Long Working Distance BD semi-apochromatische metallurgische doelstellingen 20X/NA=0.4, WD=8,5 MM * *
Infinity lange werkafstand BD semi-apochromatische metallurgische doelstellingen 50X/NA=0.55, WD=7,5 MM * *
100X/NA=0.8, WD=2,1 MM
100X/NA=0.8, WD=3,5 MM
Bright Field Semi-apochromatische metallurgische doelstellingen 5X/NA=0.15, WD=19,5 MM
10X/NA=0.3, WD=10,9 MM
20X/NA=0.5, WD=3,2 MM
50X/NA=0.8, WD=1,2 MM
100X/NA=0.9, WD=1 MM
  Ultra-lange werkafstand Bright Field Semi-apochromatische metallurgische doelstellingen 20X/NA=0.4, WD=8,8 MM
Neusstuk Elektrisch sextupelstuk BD, met DIC-sleuf * *
Frame en verlichting Gereflecteerd frame met coaxiaal scherpstelmechanisme met lage positie, grof bereik: 35 mm, fijne precisie: 0,001 mm, met bovengrens en spanningsaanpassing. Ingebouwd 100 V-breedspanningssysteem.
Straler met weerkaatste lichtvelden/donkere velden, met elektrisch diafragma met variabele opening, in het midden instelbaar; met schakelapparaat voor helder veld en donker veld; met filtersleuf en polarisatiefleuf; uitgerust met MvImage-Industry-software en Dongle.
*  
Verzonden en gereflecteerd frame met coaxiaal scherpstelmechanisme met lage positie, grof bereik: 35 mm, fijne precisie: 0,001 mm, met bovengrens en spanningsaanpassing. Ingebouwd 100-240V-breedspanningssysteem, 5W-systeem voor de verlichting van de LED-transmissie met koele kleuren (warme kleuren verkrijgbaar), kan het boven- en onderlicht onafhankelijk worden bediend.
Straler met weerkaatste lichtvelden/donkere velden, met elektrisch diafragma met variabele opening, in het midden instelbaar; met schakelapparaat voor helder veld en donker veld; met filtersleuf en polarisatiefleuf; uitgerust met MvImage-Industry-software en Dongle.
  *
Gereflecteerd frame met coaxiaal scherpstelmechanisme met lage positie, grof bereik: 35 mm, fijne precisie: 0,001 mm, met bovengrens en spanningsaanpassing. Ingebouwd 100 V-breedspanningssysteem.
Straler met weerkaatste lichtvelden/donker veld, met elektrisch diafragma met variabele opening, in het midden instelbaar; met schakelapparaat voor helder veld en donker veld; met filtersleuf en polarisatiefleuf; met LED-lichtkast van 12 V/10 W, koele kleur (kleurtemperatuur 4750-5500K); uitgerust met MvImage-Industry-software en Dongle.
 
Halogeenlamp, 12 V/100 W, met middenset, voor overgebracht en gereflecteerd gebruik * *
Halogeenlamp, 12 V/100 W. * *
Fase 12*14 inch drielaags mechanische trap met lage positie coaxiale afstelling, grootte: 420 mm*710 mm, bewegingsbereik: 305 mm*356 mm, met koppelingshendel voor snelle beweging. Metalen plaat voor gereflecteerd gebruik. *  
12*14 inch drielaags mechanische trap met lage positie coaxiale afstelling, grootte: 420 mm*710 mm, bewegingsbereik: 305 mm*356 mm, met koppelingshendel voor snelle beweging. Glasplaat voor overdraagbaar en gereflecteerd gebruik.   *
Polarisator en analyser Polarisator en vaste analyzer
Polarisator en 360 graden draaibare analyser * *
Roterende werkbank Roterende werkbank. 12-inch wafer plaat, voor 6, 8, 12 inch wafer
Interferentiefilter Blauw interferentiefilter voor gereflecteerd gebruik: <=480nm
Groen interferentiefilter voor gereflecteerd gebruik: 520 nm-570 nm
Rood interferentiefilter voor gereflecteerd gebruik: 630 nm-750nm
Interferentiefilter voor gereflecteerd gebruik, kleurbalans (wit licht), geschikt voor halogeenlampen * *
DIC DIC-kit, geschikt voor de andere doelstellingen dan Infinity Long Working Distance BD Semi-apochromatische metallurgische doelstellingen
DIC-kit, geschikt voor Infinity Long Working Distance BD Semi-apochromatische metallurgische doelstellingen
Adapter 0,35x adapter voor C-bevestiging, instelbaar op focus
ADAPTER MET 0,5X C-bevestiging, instelbaar op scherpstelling
0,65x adapter voor C-bevestiging, instelbaar op focus * *
1X adapter voor C-bevestiging, instelbaar op focus
Overige accessoires Interne zeskantige sleutel M4 * *
Interne zeskantige sleutel M6 * *
Opmerking:·Standaard outfit, ○ Optioneel

Accessoires
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
1. Internationaal geavanceerd oculair met groot gezichtsveld
HET OCULAIR VAN 10X/25mm is vlak en helder, zelfs aan de rand van het FOV, wat handig is om een vollediger beeld van het monster te kunnen presenteren.

 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
2. Doelstellingen op lange afstand
Een hele reeks professionele semi-APO metallurgische doelstellingen, nemen de lenzen met hoge transmissie en geavanceerde coating technologie.
Doelstellingen voor de lange werkafstand voor optie zijn efficiënt om schade aan monsters te voorkomen.
 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
3. Adapter voor C-bevestiging
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
4. Interferentiefilters
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
5. Polarisator en analysator
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
6. Andere accessoires

Voorbeeldbeeld
 
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope
BestScope BS-4060RF Trinocular Reflected Semiconductor FPD Industrial Inspection Metallurgical Microscope




 

Stuur uw aanvraag naar deze leverancier

*van:
*naar:
*bericht:

Voer tussen 20 tot 4000 karakters.

Dit is niet wat je zoekt? Plaats Nu het Verzoek tot Scourcing

Zoek vergelijkbare producten op categorie

Startpagina leverancier Producten Microscoop Industriële inspectie microscoop BestScope BS-4060RF trinoculaire gereflecteerde halfgeleider FPD Industriële Inspectie Metallurgische microscoop