Warranty: | 3 Years |
---|---|
Vergroting: | 500-1000X |
Type: | Metallografische |
Aantal Cilinder: | ≥ Drie |
Mobiliteit: | Desktop |
Stereoscopische Effect: | Zonder stereoscopische Effect |
Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties
Donker veld (wafer) Met het donkere veld kan verstrooid of gediffracteerd licht van het monster worden waargenomen. Alles wat niet vlak is, reflecteert dit licht, terwijl alles wat vlak is donker lijkt, zodat onvolkomenheden duidelijk opvallen. De gebruiker kan het bestaan van zelfs een minieme kras of fout tot het niveau van 8 nm identificeren - kleiner dan de oplossende vermogenslimiet van een optische microscoop. Darkfield is ideaal voor het detecteren van kleine krassen of gebreken op een monster en het onderzoeken van spiegeloppervlakken, inclusief wafers. |
Differentiële interferentiecontrast (geleidende deeltjes) DIC is een microscopische observatietechniek waarbij het hoogteverschil van een monster dat niet met helderveld kan worden waargenomen een reliëf-achtig of driedimensionaal beeld wordt met een verbeterd contrast. Deze techniek maakt gebruik van gepolariseerd licht en kan worden aangepast met een keuze uit drie speciaal ontworpen prisma's. Het is ideaal voor het onderzoeken van monsters met zeer kleine hoogteverschillen, waaronder metallurgische structuren, mineralen, magnetische koppen, harde schijven en gepolijste waferoppervlakken. |
Observatie van uitgezonden licht (LCD) Voor transparante monsters zoals LCD's, kunststoffen en glasmaterialen is observatie van doorgezonden licht mogelijk door gebruik te maken van een verscheidenheid aan condensors. Het onderzoeken van monsters in overdraagbaar helderveld en gepolariseerd licht kan allemaal in één handig systeem worden uitgevoerd. |
Gepolariseerd licht (asbest) Deze microscopische observatietechniek maakt gebruik van gepolariseerd licht dat wordt gegenereerd door een set filters (analyser en polarisator). De kenmerken van het monster beïnvloeden rechtstreeks de intensiteit van het licht dat door het systeem wordt gereflecteerd. Het is geschikt voor metallurgische structuren (d.w.z. groeipatroon van grafiet op nodulair gietijzer), mineralen, LCD's en halfgeleidermaterialen. |
Item | Specificatie | BS-6024RF | BS-6024TRF | |
Optisch systeem | NIS45 Infinite Optisch systeem met kleurcorrectie (buislengte: 200 mm) | * | * | |
Kijkkop | Ergo Tilting trinoculaire kop, instelbaar onder een hoek van 0 tot 35°, interpupillaire afstand van 47mm tot 78 mm; splitsingsverhouding oculair:trinoculair=100:0 of 20:80 of 0:100 | * | * | |
Seidentopf trinoculair hoofd, hoek van 30°, interpupillaire afstand: 47mm-78mm; splitsingsverhouding oculair:trinoculair=100:0 of 20:80 of 0:100 | ○ | ○ | ||
Seidentopf binoculaire kop, hoek van 30°, interpupillaire afstand: 47 mm-78mm | ○ | ○ | ||
Oculair | Superbreed oculair met veldompervlak SW10X/25mm, dioptrie instelbaar | * | * | |
Superbreed oculair met veldompervlak SW10X/22mm, dioptrie instelbaar | ○ | ○ | ||
Extra breed oculair met veldplan EW12,5 x/16 mm, dioptrie instelbaar | ○ | ○ | ||
Breed oculair WF15X/16mm, dioptrie instelbaar | ○ | ○ | ||
Breed oculair WF20X/12 mm, dioptrie instelbaar | ○ | ○ | ||
Doelstelling | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF) | 5X/NA=0.15, WD=20MM | * | * |
10X/NA=0.3, WD=11 MM | * | * | ||
20X/NA=0.45, WD=3,0 MM | * | * | ||
NIS45 Infinite LWD Plan APO Objective (BF & DF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 MM | * | * | |
100X/NA=0.9, WD=1,0 MM | * | * | ||
NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF) | 5X/NA=0.15, WD=20MM | ○ | ○ | |
10X/NA=0.3, WD=11 MM | ○ | ○ | ||
20X/NA=0.45, WD=3,0 MM | ○ | ○ | ||
NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF) | 50X/NA=0.8, WD=1,0 MM | ○ | ○ | |
100X/NA=0.9, WD=1,0 MM | ○ | ○ | ||
Neusstuk | Nekstuk van het nekstuk van de achterwaartse sextupelbeweging (met DIC-sleuf) | * | * | |
Condensor | LWD-CONDENSOR N.A.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N.N. | ○ | * | |
Verzonden verlichting | HALOGEENLAMP 24V/100W, Kohler-verlichting, met ND6/ND25-filter | ○ | * | |
3 W S-LED-lamp, vooringesteld in het midden, instelbare intensiteit | ○ | ○ | ||
Gereflecteerde verlichting | Reflected light 24V/100W halogeenlamp, Koehler verlichting, met draaischijf met 6 posities | * | * | |
Halogeenlamp van 100 W. | * | * | ||
Gereflecteerd licht met LED-lamp van 5 W, Koehler-verlichting, met draaischijf met 6 standen | ○ | ○ | ||
BF1 heldere veldmodule | ○ | ○ | ||
BF2 heldere veldmodule | * | * | ||
DF-module voor donker veld | * | * | ||
Ingebouwd ND6-, ND25-filter en kleurcorrectiefilter | ○ | ○ | ||
ECO-functie | ECO-functie met ECO-knop | * | * | |
Scherpstellen | Lage positie coaxiale grof- en fijnscherpstelling, fijne verdeling 1μm, bewegend bereik 35 mm | * | * | |
Max. Hoogte van het monster | 76 mm | * | ||
56 mm | * | |||
Fase | Dubbellaags mechanische trap, maat 210 mmX170 mm; bewegingsbereik 105 mmX105 mm (rechter- of linkerhandgreep); precisie: 1 mm; met hard geoxideerd oppervlak om slijtage te voorkomen, kan de Y-richting worden vergrendeld | * | * | |
Waferhouder: Kan worden gebruikt om wafer van 2", 3", 4" te houden | ○ | ○ | ||
DIC-kit | DIC-kit voor gereflecteerde verlichting (kan worden gebruikt voor 10x, 20x, 50x, 100X-doelstellingen) | ○ | ○ | |
Polarisatieset | Polarisator voor gereflecteerde verlichting | ○ | ○ | |
Analyser voor gereflecteerde verlichting, 0-360° draaibaar | ○ | ○ | ||
Polarisator voor doorgestuurde verlichting | ○ | |||
Analyser voor doorgezonden verlichting | ○ | |||
Overige accessoires | 0,5X adapter voor C-bevestiging | ○ | ○ | |
1X adapter voor C-bevestiging | ○ | ○ | ||
Stofkap | * | * | ||
Netsnoer | * | * | ||
Kalibratieschuif 0,01 mm | ○ | ○ | ||
Monster-drukpers | ○ | ○ |
Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties