Benchtop Poeder X-ray Diffraction Xrd instrument Lab instrument Xrd Analyzer Spectrometer

• After-sales Service: Online Instruction; Real-Time Support
• Toepassing: Laboratoriumapparatuur
• Garantie: 1 jaar
• Detectie methode: Spectrofotometer
• Voordeel: High Sensitive
• Principe: Nieuwe Spectrometer
• Model NR.: DW-XRD-Y3000
• Aangepaste: Niet-aangepaste
• Transportpakket: Standard Package
• Handelsmerk: Drawell
• Oorsprong: China
• Productiecapaciteit: 200 Piece Per Year

Beschrijving

DW-XRD-Y3000 Model X-ray diffractie instrument

 

Productbeschrijving

De diffractometer van de Y3000 -serie is ontworpen voor materiaalonderzoek en analyse van industriële producten. Het is de perfecte combinatie van

conventionele analyse met meetproducten voor speciale doeleinden.
•de perfecte combinatie van hardware en software systemen voldoet aan de behoeften van academici en onderzoekers in verschillende
toepassingsgebieden.

• Het uiterst nauwkeurige systeem voor het meten van de diffractie-hoek levert nauwkeurigere resultaten op.
• De hoge stabiliteit van het regelsysteem van de röntgengenerator wordt steeds groter stabiele precisie van herhaalbaarheid
• Programmeerbare bediening, geïntegreerd structuurontwerp, eenvoudige bediening, elegante uitstraling.

Röntgendiffractie (XRD) is een veelzijdig testinstrument om de kristalstructuur en chemische informatie te onthullen:

• Oneigen monsters in een verscheidenheid aan fasidentificatie
• Gemengde monsters met bekende kwantitatieve fasenanalyse
• Analyse van de kristalstructuur
• De kristalstructuur verandert onder onconventionele omstandigheden (hoge temperatuur, lage temperatuur)

•Analyse op materiaal oppervlakfilm
•Analyse van de structuur en spanning van metalen materiaal
Techniekparameter

Nominaal vermogen	3 kW
Buisspanning	10 kV
Buisstroom	5-80 mA
Röntgenbuis	Glazen buis, keramische buis, keramische rimpelbuis: CU, Fe, Co, CR, Mo, enz., Vermogen 2 kW
Scherpstelgrootte	1 x 10 mm of 0.4 x 14 mm of 2 x 12 mm
Stabiliteit	≤0.01%
Goniometer structuur	Horizontaal ( θ-2 θ)
Straal van diffractie	185 mm
Scanbereik	0-164
Scansnelheid	0.0012° - 70° min.
Max. Draaisnelheid	100° /min
Scanmode	θ-2θ -stangenstelsel, θ,2θ  enkele actie; continu of stapsgewijs scannen
Herhaalbare nauwkeurigheid van de hoek	1000°
Minimale staphoek	1000°
Detector	Proportionele tellers (PC) of scintillatietellers (SC)
Het tellen van de lineariteit	5 x 105 pk ( met de compensatiefunctie van de valtelling )
Energieresolutieverhouding	≤25% (PC),≤50% (SC)
Tellende mode	Differentiële coëfficiënt of integraal, PHA automatisch, Dead Time reguleren
Stabiliteit van de systeemmaatregel	≤0.01%
Dosis verstrooide stralen	≤1  μ SV/h ( zonder röntgenbeveiligingsapparaat )
Instrument-integratiestabiliteit	≤0.5%
Grootte van afbeelding	1100 x 850 x 1750 mm

  

Gedetailleerde foto's