Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs

Productdetails
Maatwerk: Beschikbaar
After-sales service: levenslang
Garantie: 1 jaar
Diamant Lid Sinds 2020

Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties

Gecontroleerde Leverancier Gecontroleerde Leverancier

Gecontroleerd door een onafhankelijk extern inspectiebureau

Jarenlange exportervaring
De exportervaring van de leverancier is meer dan 10 jaar
Ervaren team
De leverancier heeft 6 buitenlands handelspersoneel en 6 personeel met meer dan 6 jaar ervaring in de buitenlandse handel
Snelle Bezorging
De leverancier kan de goederen binnen 15 dagen leveren
Product certificatie
De producten van de leverancier beschikken al over relevante certificeringskwalificaties, waaronder:
CE
om alle geverifieerde sterktelabels te bekijken (21)
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
  • Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs
Vind vergelijkbare producten
  • Overzicht
  • Verpakking en verzending
  • Onze voordelen
  • VEELGESTELDE VRAGEN
Overzicht

Basis Informatie

Model NR.
CY-6300A
Max Diameter van werkstuk
Minder dan 500 mm
Massa Scope van werkstuk
<900 kg>
Type
Balancerende machine
Maximale capaciteit
> 1000KN
Nauwkeurigheid Grade
0.5
Laadweg
Elektronische belasting
Laden Methode
Dynamische belasting
Tonen
Naald
Controle
Controle van de Computer
Gewicht
0-100 kilogram
Energiebron
AC220V
Oliecilinder Positie
Onder
bereik van de avelengte
175 nm ~ 800 nm
resolutie (fwhm)
0,009 nm (bij 313 nm)
golflengte stop
±0,001 nm
fotomultiplier-buis
r306 en een ander type
Transportpakket
doos
Specificatie
75 cm * 65 cm * 70 cm.
Handelsmerk
cyeyo
Oorsprong
Shan Dong
Gs-Code
9027500090
Productiecapaciteit
100

Beschrijving

                        
                    Lab icp ms Inductief gekoppelde plasma-massaspectrometer met EXW Prijs
Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price
Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price
Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price1 Naam van het instrument

ICP6300A ICP Atomic Emission Spectrometer


2 Inleiding
Dit instrument is een compacte, goedkope en superieure operationele sequentiële hoge frequentie inductief gekoppelde plasma atoomemissiespectrometer, ontworpen voor gebruik voor een breder scala aan ICP atoomemissiespectrofotometrische analysebehoeften.

Dit instrument heeft de volgende kenmerken:
1. Kan op een tafelblad worden geplaatst met beperkte beperkingen op temperatuurbereiken, enz.
2. Eenvoudige werking met efficiënte routinematige analyse.


3 onderdelen
Dit instrument bestaat uit de volgende eenheden:
1. RF-voedingseenheid
2. Sample-introductieeenheid
3. Spectroscope-eenheid
4. Regeleenheid
5. Rekeneenheid

4 Specificaties van de unit
4.1 voedingseenheid met hoge frequentie
Frequentie 27,12 MHz
Vermogen 0.5 ~ 1,2 kW (instellingen in stappen van 0,1 kW)
Circuit Alle Solid State circuits
Koeling luchtgekoeld
Overeenkomende π-Type Auto Matching
Contact Auto contact

4.2 Sample Introduction Unit
Samenstelling kwarts glasplaten, concentrische vernevelaar,
Spuitkamer
Bereik gasstroom
Plasmagas 14 ~ 20 l/min.
Hulpgas 0 ~ 2 l/min.
Draaggas 0 ~ 0,4 MPa
Kamergas 0 ~ 2 l/min.
De argon gas-druk van het apparaat te zien is laag
Waterdruk laag (voor koeling van de werkspoel)
Deur van de zaklantaarn open
Plasma gasflow

4.3 Spectroscope-eenheid
Type Double monochromator Type
Golflengtebereik 175 nm ~ 800 nm
Resolutie (FWHM) 0,009 nm (bij 313 nm)
In-/uitloopsleuf vast
Stappenmotor voor de rijaandrijving
Golflengte stop ±0,001 nm
   Reproduceerbaarheid
Detector fotomultiplier buis:
R306 en een ander type
1. Sorteer
Berg Seya-Namioka
Brandpuntsafstand 20 cm.
Diffractie raspen Holographic Concave Diffraction raspen
2. Echelle-monochromator
Berg Czerny-Turner
Brandpuntsafstand 30 cm.
Diffractie raspen Echelle Plane Diffraction raspen
3. Vacuüm ultraviolet gebied
Kan worden doorgeblazen met argon of stikstofgas
4. Condensatiesysteem
Variabele observatiehoogte (0 tot 30 mm)

4.4 regeleenheid
Spectroscope-golflengte scannen
Wijziging van de fotomultiplier-buis
Verandering van de spanning in de buis van de fotomultiplier
RF-uitgangsregeling
Kamergas

4.5 rekeneenheid
CPU MMX-technologie PentiumTM 166 MHz of hoger
RAM 32 MB of meer
HDD van 2 GB of meer
FDD 3.5 inch (3 modi)
CD-ROM 8x snelheid of hoger
Besturingssysteem Microsoft®Windows®95
CRT 17 -kleurenmonitor
Printer A4 laserprinter

 Pentium is een gedeponeerd handelsmerk van Intel.
 Microsoft en Windows zijn gedeponeerde handelsmerken van Microsoft Corporation.

5 Software
De software voor dit instrument maakt gebruik van de functies van het Windows-systeem en kan op dezelfde manier worden bediend met software van andere markten. De software heeft de functies die nodig zijn om analyses uit te voeren gecomprimeerd en biedt een gebruiksvriendelijke omgeving voor een breed scala aan analysebehoeften.  De software bevat de 6 functies die hieronder worden uitgelegd.

5.1 Bestand
Selecteert de hieronder beschreven bewerkingen voor analyse en conditiebewerking, evenals het openen van analysegegevens en resultaatbestanden.

5.2 Meetomstandigheden
Creëert de meetvoorwaarden die nodig zijn voor kwantitatieve en kwalitatieve analysemetingen.
Analysecondities bepalen
Meting
Meet in één meetprofiel met maximaal 80 elementen × 20 analyselijnen.
Kwalitatieve bepaling
Voert kwalitatieve analyse uit op basis van de spectrumprofielgegevens die zijn verkregen uit de meting.  Identificeert de elementen in het monster in 3 stappen en berekent de geschatte concentratie.
Bepaling van de conditie
Maakt automatisch kwantitatieve analysevoorwaarden op basis van de spectrumprofielgegevens die zijn verkregen uit de meting.  Selecteer standaard, blanco of onbekend monster.  Kwantitatieve analysecondities zoals de totale tijd, de juiste analyselijn, of er al dan niet achtergrondcorrectie moet worden uitgevoerd, enzovoort voor elke elementanalyse worden automatisch gemaakt.
Analysevoorwaarden bewerken
Hiermee bewerkt u de analysevoorwaarden die worden gebruikt in metingen van kwalitatieve analyses.  De condities bestaan uit meetcondities voor elk element (analyselijn), algemene condities en standaard sample condities.  Alle noodzakelijke voorwaarden kunnen worden ingesteld en het bestand kan worden opgeslagen.  
Ook zijn tijdens het bewerken van condities hulpfuncties toegevoegd, waaronder hulpmiddelen, bepaling van de analyseconditie en kwalitatieve bepaling.  Door deze toevoeging kan de informatie die tijdens het bewerken is verkregen onmiddellijk worden gebruikt voor instellingen.

5.3 Analyse
Voert kwalitatieve en kwantitatieve analyse uit.
Kwalitatieve analyse
Voert een snelle identificatie uit terwijl een maximaal 72 element analyse lijnprofiel wordt gemeten.  Elementen in het monster worden in 3 stappen geïdentificeerd en de geschatte concentratie wordt berekend.
Kwantitatieve analyse handmatige meting
Door handmatige bediening van monsters, kwantitatieve analysemetingen van maximaal 80 elementen, kunnen 170 monsters worden uitgevoerd.  Bewerk de sample-condities voor de aangegeven kwantitatieve analysecondities.  Klik vervolgens op de knop meten om de meting te starten.  Tijdens metingen kunnen de meetgegevens, kalibratiecurves en het spectrumprofiel worden bekeken.
Kwantitatieve analyse Autosampler-meting (optie)
Met behulp van de automatische monsternamefunctie wordt het monster automatisch geïntroduceerd en kunnen kwantitatieve analysemetingen van maximaal 80 elementen worden uitgevoerd, waarbij 170 monsters kunnen worden genomen.  Er kunnen maximaal 10 condities worden geselecteerd voor de kwantitatieve analyse en continue metingen zijn mogelijk met de automatische monsternamefunctie.  Er is ook een automatische aan/uit-functie voor het plasma toegevoegd.

5.4 gegevens
Controleert en verwerkt gegevens die bij elke analyse zijn verkregen.
Kwalitatieve gegevens
Geeft gegevens weer die zijn verkregen uit kwalitatieve analyse, bewerkt of afgedrukt.
Displays en overlap geven het gemeten spectrumprofiel weer.
Gegevens voor het bepalen van de conditie
Geeft gegevens weer/bewerkt (selectie van analyselijn, instellingen voor achtergrondcorrectie, enz.)/drukt gegevens af die zijn verkregen met behulp van conditiebepaling.
Displays en overlap geven het gemeten spectrumprofiel weer.
Kwantitatieve gegevens
Geeft meetgegevens weer/bewerkt (conversie van eenheden, berekening van verdunningsgraden, berekening van moleculair gewicht)/drukt deze af.
Hiermee worden spectrumprofielen weergegeven/bewerkt (overlappend)/afgedrukt.
Toont/bewerkt (maken, onbekende concentratieberekening, standaard-toevoegmethode)/drukt kalibratiecurves af.
Laadt Excel en plakt de profielgegevens en kalibratiecurvegegevens op een Excel-blad.  Met deze functie kan de gebruiker de gegevensinformatie vrij beheren.

5.5 gereedschap
Bevat de gereedschappen die nodig zijn voor normaal gebruik van bijvoorbeeld plasma-ontsteking en golflengte-initialisatie.  Door de werking van het instrument of eenvoudige metingen kunnen de toestand of de prestaties worden gecontroleerd.
Plasma Ignite/blussen
Ontsteekt en dooft het plasma automatisch.
Initialisatie golflengte
Initialiseert automatisch de golflengte.
Profielmeting
Meet onmiddellijk het spectrumprofiel zonder ingewikkelde conditieinstellingen.  Kan ook maximaal 5 gemeten spectrumprofielen overschrijven.
DL-meting
Meet blanco monsters/standaardmonsters en berekent de detectielimiet.
 Meting van de distributie
Hiermee wordt een grafiek gemaakt met behulp van de RF-uitvoer of -observatiehoogte op de horizontale as en de intensiteit of SB-verhouding op de verticale as.
Golflengtecorrectie
Corrigeert de golflengteafwijking van het instrument.  Deze functie vermindert de piekfouten in de analyse.
Werking van het instrument
Geeft de status en de regeling van het instrument weer.

5.6 Instellingen
Onderhoud
Houdt de database bij die wordt gebruikt voor elke analyse of onderhoud van het instrument.
Golflengte-database
Gebruikt voor het maken van de kwalitatieve analyserelijn of het bewerken van de analyse- of interferentielijn.
Systeemgegevens
Bewerkt verschillende gegevens die worden gebruikt om het instrument te bedienen.  Deze functie wordt gebruikt voor onderhoud van instrumenten.
Foutgeschiedenis
Registreert en slaat automatisch de inhoud van fouten op wanneer er problemen met het instrument optreden.  Deze functie is zeer nuttig bij het oplossen van problemen.
Optie-instellingen
Hiermee kunt u wijzigingen in de weergavekleur van het spectrumprofiel en gedetailleerde instellingen voor metingen die normaal niet worden gebruikt, inschakelen.

6 Afmetingen en gewicht
Hoofdeenheid 750 W × 680 D × 665 H (mm), 90 kg
(Zonder Autosampler)
RF-voeding 380 W × 510D × 460 H (mm), 32 kg


7 nutsbedrijven
Koelwater zacht water, druk 0.1 ~ 0,2 MPa (minimaal 0,05 MPa of meer tijdens pulsatiestroom), 2 l/min of meer, 20 ~ 25 ºC is ideaal.  (geen dauwvorming)
Argon gaszuiverheid 99,99 vol% of meer, conform JIS-specificatie K1105
Druk 0,4 MPa, debiet 16 l/min (standaardgebruik).
Stikstofgas stikstofgas kan worden gebruikt voor het purgen van de spectroscoop in plaats van argon-gas.
(Voor purgeren) zuiverheid 99,99 vol% of meer, dauwpunt -70 ºC of minder.
Druk 0,4 MPa, debiet 10 l/min.
Voeding enkelfasige AC100V ±10V 15A geaard (Gemiddelde verbruikte stroom 7A)
Driefasige △-draad AC200V ±20V 15A geaard (Gemiddelde verbruikstroom 13A)
Opmerking: Bij gebruik van het circulatiewaterkoelsysteem (voor werkspoel) is EEN afzonderlijke eenfasige AC100V 2A vereist.
Duct Flow 5 m3/min of meer, 200ºC hittebestendigheid (inlaatpoort), diameter 200mmφ met demper bevestigd.
Bedrijfstemperatuur kamertemperatuur 10 ~ 30 ºC en temperatuurveranderingen binnen 5 ºC/30 min.
Vochtigheid 80% of minder (geen dauwvorming)




8 bijlagen
1. Bedieningshandleiding 1 kopie
2. Testrapport 1 kopie
3. Computerbijlagen 1 Set
4. Printer Attachments 1 Set
5. ICP3600A -SYSTEEM CD-R 1
6. Tygon-buis (1/32"×3/32") 1 m.
7. Tygon-buis (7/16"×9/16") 1 m.
8. Teflon-buis (AWG24) 1 m.
9. Kegelhuls 5
10. BTW-afwateringsregeling 1

 
 

 
Verpakking en verzending

Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price

Onze voordelen

Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price

VEELGESTELDE VRAGEN

Lab Icp Ms Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometer with EXW Price

 

Stuur uw aanvraag naar deze leverancier

*van:
*naar:
*bericht:

Voer tussen 20 tot 4000 karakters.

Dit is niet wat je zoekt? Plaats Nu het Verzoek tot Scourcing
Contacteer leverancier

Zoek vergelijkbare producten op categorie

Startpagina leverancier Producten thermische analyser Lab Icp Ms Inductief Gekoppelde Plasma Massaspectrometer met EXW Prijs