After-sales Service: | Yes |
---|---|
Warranty: | 1 Year |
Type: | Inspection Surface Plate |
Measurement Object: | Thickness |
Range: | 0~25mm |
Resolution: | 0.1um |
Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties
Model | EC-470 |
Meetprincipe | FE: Magnetische inductie; NFE: wervelstroomeffect |
Meetbereik | 0~2000 μm |
Precisie | ±(3%+1 μm) |
Resolutie | 0,1 μm (0~100 μm); 1 μm(>100 μm) |
kalibratie | Nulkalibratie |
eenheid | μm, mm, mil |
Minimale kromtestraal van substraat | Convex oppervlak 5 mm; concave oppervlak 25 mm |
Minimaal meetgebied | diameter van 15 mm |
Minimale dikte van het substraat | FE: 0,30 mm; NFE: 0,05 mm |
Maximale meetsnelheid | 2 metingen/sec. |
weergave | Dot matrix LCD-scherm met achtergrondverlichting |
Gebruiksomgeving | Temperatuur: -10ºC~50ºC; vochtigheid: 20% RV~90% RV (niet-condenserend) |
Opslagomgeving | Temperatuur: -20ºC~60ºC; vochtigheid: 20% RV~90% RV (niet-condenserend) |
voeding | 2 AAA-alkalinebatterijen van 1,5 V/oplaadbare batterijen van 1,2 V. |
Beschermingsniveau | IP40 |
Afmetingen | 102*53.6*25 mm |
shell-materiaal | ABS |
gewicht | Ongeveer 80 g (zonder batterijen) |
Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties