Halogeenvrije richtlijn Röntgenspectrometer

• Toepassing: Industriële
• Garantie: > 1Jaar
• Detectie methode: X-ray
• Voordeel: Factory
• Principe: Energy Dispersive X-ray
• Golflengten: Infrarood spectrometer
• Model NR.: EDX8600H
• Dispersive Element: Raspen Spectrometer
• Light Number: Monochromator
• Certificaat: RoHS, ISO9001, CE
• Aangepaste: Op maat
• meetbare elementen: na-u.
• inhoud van element: 1 ppm-99.9999%
• meettijd: 200-600s
• Transportpakket: Carton Packing for Export
• Specificatie: CE, RoHS
• Handelsmerk: JB
• Oorsprong: Wuxi
• Productiecapaciteit: 10sets/Month

Beschrijving

EDX8600H  Spectrometer voor fluorescentie op röntgenstraling

EDX8600H  Absorbeert alle voordelen van de EDX-serie en is bovendien uitgerust met een vacuümsysteem, zodat het de testomvang uitbreidt, de detectielimiet verbetert en de datastabiliteit verbetert.

Productkenmerken
1. De uit Amerika geïmporteerde siliciumdraft-detector met een hogere energieresolutie verbetert de detectie grotendeels.
2. Limiet van lichtelementen die 100 maal hoger is dan die van Si-pin-detector. De meetomvang is breder, wat bijna kan voldoen aan de eisen van elementanalyse van alle conventionele materialen.
3. Het uit Amerika ingevoerde data-integratieverwerkingssysteem maakt data-acquisitie sneller, meting stabieler met uitstekende herhaalbaarheid en langdurige stabiliteit.
4. Up-to-date software die meerdere beeldverdichtingsmethoden integreert maakt gegevensmetingen nauwkeuriger en stabieler.
5. Software volledige monitoren de kernonderdelen die draaien garanderen een veilige werking.
6. Een gespecialiseerd vacuümsysteem biedt betere vacuümprestaties en uitstekende testresultaten.

Technische parameter
Analyseerbare elementen	Na-u
Analysbaar bereik	1 ppm-99.99%
Meettijd	100-300s instelbaar
Maximale limiet voor schadelijke elementen van RoHS	CD/PB/CR/hg/BR/2PPM
Energieresolutie	149±5 eV
Temperatuur	15 °C.
Voeding	Optionele AC-stabilisator van 220 V±5 V aanbevolen