• Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing
  • Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing
  • Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing
  • Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing
  • Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing

Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing

After-sales Service: 1 jaar
Garantie: 1 jaar
Type: rie
Certificaat: CE
Etsen Type: Dubbele Spray
Precisie: High Precision

Contacteer leverancier

Diamant Lid Sinds 2017

Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties

Basis Informatie.

Model NR.
MD150-RIE
Conditie
Nieuw
Handelsmerk
minder-hightech
Oorsprong
China
Productiecapaciteit
100

Beschrijving


Reactief ionenetchsysteem
RIE
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
Toegepaste materialen:
Passivation-laag: SiO2, sinx
Backlimop
Kleeflaag: Bruin
Gat: W

Functie:1. Etsen van passivatielaag met of zonder gaten; 2. Etsen van de lijmlaag; 3. Terug silicium etsen


Projectconfiguratie en schema van de machinestructuur
Item MD150-RIE MD200-RIE MD200C-RIE
Productgrootte ≤6 inch ≤8 inch ≤8 inch
RF-voedingsbron 0-300 W/500 W/1000 W instelbaar, automatisch passend
Moleculaire pomp -/620(L/s)/1300(L/s)/aangepast Antiseptic620(L/s)/1300(L/s)/aangepast
Foreline-pomp Mechanische pomp/droge pomp Droge pomp
Procesdruk Ongecontroleerde druk/0-1Torr geregelde druk
Type gas H/CH4/O2/N2/AR/SF6/CF4/
CHF3/C4F8/NF3/AANGEPAST
(Maximaal 9 kanalen, geen corrosief en giftig gas)
H2/CH4/O2/N2/Ar/F6/CF4/ CHF3/C4F8/NF3/Cl2/BCl3/HBR (maximaal 9 kanalen)
Gasbereik 0~5sccm/50sccm/100sccm/200sccm/300sccm/500sccm/custom
LoadLock Ja/Nee Ja
Sample-temregeling 10°C~kamer tem/-30°C~100°C/aangepast -30°C~100°C /aangepast
Terugheliumkoeling Ja/Nee Ja
Voering procesholte Ja/Nee Ja
Controle van de spouwwand Nee/Roomtem~60/120°C. Ruimte tem-60/120°C.
Regelsysteem Automatisch/aangepast
Etsmateriaal Op silicium gebaseerd:Si/SiO2/sinx ···
IV-IV: SIC
Magnetische materialen/legeringen
Metallic materiaal: Ni/Cr/al/Au.....
Organisch materiaal: PR/PMMA/HDMS/Organic
film ......
Op silicium gebaseerd: SI/SiO2/sinx......
III-V(3): INP/GAA/GAN......
IV-IV: SIC
II-VI (3): CdTe......
Magnetische materialen/legeringen
Metallic materiaal: Ni/Cr/A1/Au......
Organisch materiaal: PR/PMMA/HDMS/organische film...

Resultaat verwerken
Etsen van materiaal op basis van silicium
Materialen op basis van silicium, nano-imprint patronen, array
patronen en lenspatroon-etsing
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
INP normale temperatuur etsen
Patroonets van op InP gebaseerde apparaten die worden gebruikt in optische communicatie, waaronder waveguide-structuur, ridge-structuur van de resonantiecaviteitsstructuur, enz.
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
SIC-materiaal etsen
Geschikt voor microgolfapparatuur, stroomvoorzieningen, enz.
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching
Fysieke sputtering, etsen organische materiale tching
Het wordt toegepast op het etsen van moeilijk te etsen materialen zoals sommige metalen (zoals Ni / CR) en keramiek, en het patternede tching van materialen wordt gerealiseerd door fysieke bombardementen. Het wordt gebruikt voor het etsen en verwijderen van organische verbindingen Zoals fotoresist (PR)/ PMMA / HDMS / polymeer
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching

Cermet-filmmateriaal (Au/Ni/CR/Al2O3)

 
 


Weergave van de resultaten van de storingsanalyse
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching

Specificatie:
1. Voorkom dat chips vliegen
2. Minimale knoop die kan worden verwerkt: 14 nm;
3. SiO2/sinx-etsnelheid: 50-150 nm/min;
4. Ruwheid geëtste oppervlakken:<1 nm;
5. Ondersteuning van de passivatielaag, de hechtlaag en het aanbrengen van siliciumgravings op de rug;
6. Selectieverhouding Cu/al:>50
7. All-in-One machine LxBxH: 1300 mmX750 mmX950 mm
8. Ondersteuning van de uitvoering met één muisklik

Klantlocatie:
Reactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material EtchingReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material EtchingReactive Ion Etching System Rie Failure Analysis Silicon Based Material Etching Inp Normal Temperature Etching Sic Material Etching





 

Stuur uw aanvraag naar deze leverancier

*van:
*naar:
*bericht:

Voer tussen 20 tot 4000 karakters.

Dit is niet wat je zoekt? Plaats Nu het Verzoek tot Scourcing

Zoek vergelijkbare producten op categorie

Startpagina leverancier Producten Halfgeleiderindustrie Andere halfgeleiderindustrie Reactief ionenEtingssysteem Rie-storingsanalyse op silicium gebaseerd materiaal Etsing INP normale temperatuur Etsing SIC Materiaal Etsing

Misschien Vind Je Het Leuk

Contacteer leverancier

Diamant Lid Sinds 2017

Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties

Maatschappelijk Kapitaal
1000000 RMB