Meervoudige Functie Diffractie Analyse Xrd Diffractometer

• Maatwerk: Beschikbaar
• After-sales service: levenslang
• Toepassing: Laboratoriumapparatuur
• Model NR.: CY-7200
• Garantie: 1 jaar
• Detectie methode: xrd
• Voordeel: Hooggevoelig
• Principe: xrd
• Golflengten: UV-Spectrometer
• Dispersief element: Raspen Spectrometer
• Licht Nummer: Polychromator
• Certificaat: RoHS, ISO9001, CE
• Aangepaste: Op maat
• bereik van de avelengte: 175 nm ~ 800 nm
• resolutie (fwhm): 0,009 nm (bij 313 nm)
• golflengte stop: ±0.001nm
• fotomultiplier-buis: r306 en een ander type
• Transportpakket: doos
• Specificatie: 75 cm * 65 cm * 70 cm.
• Handelsmerk: cyeyo
• Oorsprong: Shan Dong
• Gs-Code: 9027500090
• Productiecapaciteit: 100

Beschrijving

                        

                    Multifunctionele diffractie-analyse XRD Diffractometer

 1. Profiel:
Het is ontworpen voor commerciële processen en kwaliteitscontrole. Het is een concentratie van geavanceerde technologie van de XRD-productie, met multifunctionele en miniaturisatie. Het kan kwalitatieve  analyse, kwantitatieve  analyse en kristalstructuuranalyse op metaal en nonmetal monster doen, vooral voor catalyst, titaniumdioxide, cement en apotheek industrie.
2. Prestaties van de apparatuur:

1. De hoogfrequente röntgengenerator met hoge spanning heeft een grotere stabiliteit, waardoor de herhaalbaarheid van de gegevens wordt gegarandeerd.
2. Goniometer θs, θd arm maakt gebruik van servomotoraandrijving en optische encoder -besturingstechnologie, zodat de goniometer soepeler draait, de diffractie-hoekmeting nauwkeuriger is en de lineariteit beter is. Binnen het bereik van de diffractie-hoek is de diffractielineariteit <0.02.
3. Het apparaat dat bescherming biedt tegen strooilichtstraling is veiliger en betrouwbaarder. Wanneer het monsters meet, zal de beschermende deur automatisch vergrendeld worden om de straling voor de mensen te vermijden.
4. De CY-7200XRD is voorzien van de meest geavanceerde metalen keramische röntgenbuis, die een lange levensduur heeft (3000 uur).

   De compacte constructie kan op het platform worden geïnstalleerd zonder speciale laboratoriumomgeving. Het is eenvoudig te bedienen en          onderhoud.
3. Aanvraag:
CY-7200XRD kan kwalitatieve  en kwantitatieve  analyse uitvoeren op polykristallijne materialen. Tijdens de kwalitatieve analyse zal het de onbekende structuur identificeren door de meetgegevens te vergelijken met de bekende fase database. Tijdens kwantitatieve analyse kan het de  kenmerken van het vaste mengsel beschrijven, zodat het relatieve gehalte van de kristallijne verbindingen of de niet-gekristalliseerde fase wordt bevestigd.                                                                                                                                                                        
Gehalte aan asbest in mengsel gemeten met CY -7200  

Analyse van de structuur van de nucleotide analoge geneeskunde door CY-7200
4. Parameters:

Servicespecificatie (buisspanning, buisstroom)		600W (40 kV, 15 mA) stabiliteit: 0.005%
Röntgenbuis		Metaal-keramische röntgenbuis, Cu-doel, vermogen 2,4 kW, focusgrootte: 1 x 10 mm;
Goniometer		θs-θd , diffractie radius 150 mm
Meetmethode		Continu, stepping, OMG
Hoekmeetbereik		De lektijd van de druming is θs/θd -3°~150°.
Minimale stapbreedte		0.0001°
Hoekreproduceerbaarheid		0.0001°
Rijmodus		servomotoraandrijving + optische encoder-besturingstechnologie
Snelheid van hoekplaatsing		1500°/min.
Teller		Gesloten proportionele detector
Resolutie van het energiespectrum		<25%
Max. Lineaire telsnelheid		≥5×105 cps (proportioneel)
Computer		Dell-laptop
Software	Software beheren	Windows 10 besturingssysteem; regel de buisspanning, de buisspanning, de sluiter van de röntgengenerator en voer automatisch een ouderdomstraining uit; regel de goniometer continu of stapsgewijs scannen en het verzamelen van diffractie-gegevens; doe routineverwerking: Automatisch zoeken naar pieken, handmatig zoeken naar pieken, geïntegreerde intensiteit, piekhoogte, kern, Achtergrondaftrek, soepelheid, piekvormversterking en spectrogramvergelijking, enz.
	Software voor gegevensverwerking	Kwalitatieve en kwantitatieve analyse van materiaalfasen , Kα1, α2-peeling, volledige spectrumfitting, piekfitting, berekening van halve breedte en korrelgrootte, meting van kristalcellen, berekening van tweede soort stress, indexering van de diffractie-lijn, meervoudige plotting, 3D-plotting, kalibratie van diffractie-gegevens, Achtergrondsubtractie, kwantitatieve analyse zonder standaarden, full spectral image fitting (WPF), XRD diffractie-beeldsimulatie, etc.
Bescherming tegen strooilistraling		Bescherming van loodglas met lood+, sluitervensters en beschermende bescherming, de dosis verstrooide straling mag niet hoger zijn dan 1 μSv/h.
Instrument  uitgebreide regulering		≤1‰
Totale afmeting		640 × 530 × 770 (b × d × h)mm

5. Lijst met standaardconfiguraties van CY-7200XRD:

Onderdeel	Elementnaam	Eenheid	Aantal	Opmerking
Röntgengenerator met hoge spanning	XRD40*600 hoogfrequente hoogspannings generator röntgengenerator	instellen	1	Solide technologie
	X27.06 hoogspanningskabel (100 kVP)	stuk	1	Lengte: 2.0 meter
	3311 pijpmof	instellen	1
	X25.02 stage (metalen behuizing)	stuk	1	Bescherming van loodglas met lood+
	AS2910/24 metalen keramische isolatiebuis  voor röntgenstraling	stuk	1	Cu-doel, 2,4 kW
Goniometer-systeem	AG-3511 goniometer	instellen	1	θ-θ structuur
	Houder voor spleet en poedermonster	stuk	1	1 set voor elk
	Monsterplaat met doorgaande opening	stuk	5	Aluminium matrix
	Monsterplaat met blinde gaten	stuk	10	Kwartsmatrix
	Filteren	stuk	1	Overeenkomen met doelmateriaal
	Afstelaccessoires voor de plaat en het verlichtingssysteem	instellen	1
Opname- en regelsysteem	Gesloten proportionele detector	instellen	1	Inclusief aansluitkabel
	Opname- en bedieningseenheid	instellen	1
	Motor- en communicatiekabel	stuk	1	2 motorkabels, 1 communicatiekabel
	Voedingseenheid	instellen	1
Pc-systeem	ZAKELIJKE Dell-notebook	instellen	1	DELL
Systeembesturing en toepasselijke software	SOFTWARE VOOR HET REGELPROGRAMMA VAN DE AL-serie diffractometer	Instellen	1	Vensters10
	Gegevensverwerking en toepassingssoftware	instellen	1	Jade 6
	Diffractie-datakaart	instellen	1	PDF2
	Crystal Structure-database	instellen	1	ICSD
Technische documenten	GEBRUIKERSHANDLEIDING VOOR DE AL-serie XRD	kopiëren	1
Reserveonderdelen	Zekeringen 1,1.5,2,2.5,3,3+(A)	stuk	10	10 stuks voor elk
	Hulpmiddelen	instellen	1
	Agaat Mortar ф100mm	stuk	1

Röntgendiffractometer analyseert natuurlijk of synthetisch organisch materiaal van de anorganische aard, dat op grote schaal wordt gebruikt op het gebied van kleimineralen, cement, bouwmaterialen, milieustof, chemische producten, farmaceutische producten, asbest, rots, polymeeronderzoek.
het optische ontwerp met θ-θ geometrie is eenvoudig voor monstervoorbereiding en De installatie van diverse accessoires de toepassing van metalen keramiek Röntgenbuis sterk verbeterd bedrijfsvermogen van de diffractometer gesloten proportionele teller is duurzaam en onderhoudsvrij
De siliciumdriftdetector, met een superieure hoekresolutie en energieresolutie, maakt meetsnelheid mogelijk die met meer dan 3 keer toeneemt. Variërende diffractometer-accessoires voldoen aan verschillende analytische doeleinden. Dankzij het modulaire ontwerp, dat bekend staat als plug-and-play-componenten, kunnen operators nauwkeurig de diffractometer-bijlages gebruiken, zonder dat een optisch systeem hoeft te worden berekend.
Omvormer van het optische systeem
De structuur van de sola-spleet kan worden veranderd zonder dat de sola-spleet-behuizing uit elkaar moet worden gehaald. Door dit karakter kan het instrument, zonder dat het opnieuw moet worden afgesteld, de converter bereiken tussen het optische systeem voor focus en het horizontale optische systeem.

De gegevensverwerkingssoftware omvat de volgende functies

Basisfuncties voor gegevensverwerking (piekzoeken, vloeiend maken, achtergrondaftrekken, piekvormen, piekvormen, spectra-vergelijking, K α 1, α 2 strippen, indexering van diffractie-lijnen);
Snelle kwantitatieve analyse van monsters zonder standaardmethode
Meting van de kristalgrootte
Analyse van de kristalstructuur (kristalcelparameters rmeasurement en verfijning)
Macroscopische spanningsmetingen en microscopische stress
Tweedimensionale en driedimensionale weergave van meervoudige tekening
Clusteranalyse van diffractie-piektekeningen
De kalibratiecurve voor halve piekbreedte van diffractie-gegevens
De correctiecurve voor de hoekafwijking van de afwijkingsgegevens
Op Rietveld gebaseerde conventionele kwantitatieve analyse
Gebruik de LCDd-database of gebruikersdatabase om fase-kwaliteit uit te voeren analyse
Gebruik ICDD-database of ICSD-database om kwantitatieve analyse uit te voeren

 

Onze voordelen

VEELGESTELDE VRAGEN