| Maatwerk: | Beschikbaar |
|---|---|
| Garantie: | 1 jaar |
| monsternemingsfrequentie bits: | 125MHz/12bits |
Leveranciers met geverifieerde zakelijke licenties
Gecontroleerd door een onafhankelijk extern inspectiebureau
Integreert A-scan, B-scan imaging, TOFD-imaging, begeleide curvebeeldvorming en andere functies
Unieke technologie voor het scherpstellen op synthetische diafragma (SAFT)
Ingebouwd inspectieprocesmodel ter plaatse, genereert automatisch inspectieproces
Draagbare scanner en automatisch scanapparaat vervangen handmatig scannen naar voldoen aan verschillende werkstukinspectievereisten
A-scan: RF-display verbetert het vermogen van het instrument om de patronen van defecten in materialen te evalueren
B-scan-imaging: Real-time weergave van defecte dwarsdoorsnede
TOFD-scanbeeldvorming: Real-time weergave van defecte scans in grijstinten
Afbeelding, laat defecten intuïtief zien en evalueer de kwaliteit van defecten
Meerkanaals TOFD-detectie en PE-detectie dekken het scannen van partities volledig af binnen een dikte van 200 mm, uitbreidbaar tot 400 mm dikte
Door golfverwijdering: Speciaal bewerkingsgereedschap voor defecten aan het oppervlak van de buurt om de nauwkeurigheid van de analyse van defecten aan het oppervlak te verbeteren
Horizontale en verticale afstelling: Om te voldoen aan verschillende bedrijfsgewoonten op locatie
SAFT: Internationaal erkende functie om de nauwkeurigheid van de metingen van defecten effectief te verbeteren
Instrumentensoftware: Heeft zowel een SAFT-functie (synthetische diafragmafocus) als een differentiële functie voor het richten van de golven
Offline analysesoftware: Heeft een SAFT-verwerkingsfunctie (Synthetic Aperture Focusing), heeft de weergavefunctie voor en na de beeldverwerking op hetzelfde scherm en heeft de functie om TOFD-beelden rechtstreeks te converteren naar BMP-bitmaps
Offline beeldanalyse: Herstel en speel de A-scan-curve die tijdens het scannen is geregistreerd, statistische analyse van de grootte van het defect en de dikte/amplitude van de contour; noteer de conversie naar het ASCI/MSWord/MS Excel-rapport
| Verzendparameters | |||
| Pulstype | Negatieve blokgolfpuls | Pulsbreedte | 40 ns-1000 ns traploos instelbaar (8 ns stap) |
| Sondes die gelijktijdig kunnen worden aangesloten | 10 | Impedantie-aanpassing | 25,500 OHM |
| Pulsstand | <10 ns | ||
| Parameters ontvangen | |||
| Samplefrequentie/bits | 125 MHz/12 bits | Scanbereik | Zero interface incidence-14000mm stalen longitudinale golf |
| Monsterdiepte | 512/1024 verstelbaar | Bereik van de geluidssnelheid | (300-20000)m/s. |
| Herhalingsfrequentie | 100 HZ-800 Hz instelbaar | Dynamisch bereik | ≥30 dB |
| Nauwkeurigheid van de demper | <1 dB/12 dB | Verticale lineaire fout | ≤3% |
| Horizontale lineaire fout | ≤0.3% | ||
| Uitgebreide prestaties | |||
| Resolutie | >30 dB | Gevoeligheidsmarge | >52 dB(Φ2x200mm) |
| Detectiemethode | Volledige detectie, positieve detectie, negatieve detectie, RF | Curve middelen | 1-8 verstelbaar |
| Beeldvormingsmodus | Een scan, B-scan, C-scan | Lineaire scanlengte | (0-40000) mm automatisch scrollen |
| Instrumentparameters | |||
| Totale grootte | 248 x 180 x 80 (mm) | Gewicht van de machine | 2,4 kg (inclusief batterij) |
| Schermgrootte | 6.5'' | Schermresolutie | 640 x 480 |
| Interactie tussen mens en computer | Toetsenbord, shuttle | SSD | 8 GB |
| Interface | LAN, USB2.0.VGA | Voeding, accu | DC (DC12V/2A), accu 11,1 V/6600 mAh |
| Bedrijfstemperatuur | (-10-40)°C (referentiewaarde) | Relatieve vochtigheid | (20-95)%RH |
| Fabrieksinspectie | Europees standaard inspectierapport verstrekt | ||

