Het Meetapparaat van de ruwheid/het Instrument van de Ruwheid/van de Test van de Oppervlakte/het Meetapparaat van de Ruwheid/het Testen Machinaal bewerkend het Meetapparaat van de Ruwheid van Delen/Oppervlakte

1 technische Parameters
De Parameters van de meting (µ M): Ra Rz Rq Rechts
De Lengte van de slag (mm): 6
De Lengte van de bemonstering (mm): 0.25, 0.80, 2.50
De Lengte van de evaluatie (mm): 1.25, 4.0,
De Waaier van de meting (µ M):
Ra: 0.05 ~ 10.0 Rz: 0.1 ~ 50
Rq: 0.05 ~ 10.0 Rechts: 0.1 ~ 50
Fout van Aanwijzing: ± 15%
Varation van Aanwijzing: <12%
Van het de naalduiteinde van de aanraking de boogstraal en hoek van de sensor
De boogstraal van het uiteinde: 10 µ M± 1 µ M
Hoek: 90
De meting van de de naald statische kracht van de sensoraanraking en zijn tarief
Meting van de de naald de statische kracht van de aanraking: ≤ 0.016N
De metingstarief van de kracht: ≤ 800N/m
De gids hoofddruk van de sensor: ≤ 0.5N
Batterij: 3.7V de Ionenbatterij van het lithium
De Dimensie van de contour: 106 mm× 70 mm× 24 mm
Gewicht: 200g
De Voorwaarden van de Werkomgeving
Temperatuur: -20~40º C
Relatieve Vochtigheid: < 90%
Het omringen van geen trilling en geen corrosief middel

De Definitie van de terminologie
L de Ruwheid van de Oppervlakte is de microcosmic geometrische die vorm op de werkstukoppervlakte door piek en vallei met kleine interspaces. wordt samengesteld
L de Lengte van de Steekproef is de lengte van de benchmark werd onderscheiden zijn oppervlakteruwheid
L de Lengte van de Evaluatie is de noodzakelijke lengte voor de evaluatie van het ruwheidsprofiel. Het kan één of meerdere bemonsteringslengten omvatten
L Ra: Is de Gemiddelde Afwijking van Airthmetical van het Profiel rekenkundige gemiddelde waarde van de afwijking van het profiel binnen bemonsteringslengte
L Rz: De maximumHoogte Onregelmatigheden is de afstand tussen maximumdiepte van de profielpieken en maximumdiepte van de profielvallei binnen de bemonsteringslengte
L Rq: De Afwijking van het meetkundige gemiddelde van Profiel
Rq is de vierkantswortel van het rekenkundige gemiddelde van de vierkanten van profielafwijking (Yi) van gemiddelde binnen bemonsteringslengte
L Rechts: De totale Hoogte van de piek-aan-Vallei
Rechts is de som van de hoogte van de hoogste piek en de diepte van de diepste vallei over de evaluatielengte